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固緯GWINSTEK
電阻R:表示導(dǎo)體對(duì)電流阻礙作用的大小,單位是歐姆,符號(hào)為Ω。
電感L:當(dāng)電流通過(guò)線圈后,在線圈中形成磁場(chǎng)感應(yīng),感應(yīng)磁場(chǎng)又會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電流來(lái)抵制通過(guò)線圈中的電流,單位是亨利,符號(hào)為H。
電容C:是指在給定電位差下自由電荷的儲(chǔ)藏量,國(guó)際單位是法拉,符號(hào)為F。
電抗X:類似于直流電路中電阻對(duì)電流的阻礙作用,在交流電路(如串聯(lián)RLC電路)中,電容及電感也會(huì)對(duì)電流起阻礙作用,單位是歐姆,符號(hào)為Ω。
阻抗Z:在具有電阻、電感和電容的電路里,對(duì)電路中的電流所起的阻礙作用叫做阻抗。阻抗常用Z表示,是一個(gè)復(fù)數(shù),實(shí)部稱為電阻,虛部稱為電抗。
電導(dǎo)G:電導(dǎo)是描述導(dǎo)體導(dǎo)電性能的物理量,電導(dǎo)數(shù)值上等于電阻的倒數(shù)。單位是西門子,符號(hào)S。
電納B:是復(fù)數(shù)導(dǎo)納的虛數(shù)部分,按性質(zhì)可分為容納和感納。單位是西門子,符號(hào)為S
導(dǎo)納Y:阻抗Z(復(fù)數(shù))的倒數(shù)定義為導(dǎo)納(復(fù)數(shù))。單位是西門子,符號(hào)為S
品質(zhì)因數(shù)Q:對(duì)電子共振系統(tǒng)而言,Q因子表示電阻的影響,個(gè)別儲(chǔ)存元件的Q因子和對(duì)應(yīng)信號(hào)頻率有關(guān),一般是電路的共振頻率。Q=Xs/Rs。
損耗因子D:Q的倒數(shù)。
LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。測(cè)量步驟如下:
1.設(shè)置測(cè)試頻率
2.測(cè)試電壓或者電流水平
3.選擇測(cè)試參數(shù),比如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等
4.儀器校準(zhǔn),校準(zhǔn)主要進(jìn)行開路、短路校準(zhǔn),高檔的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)
5.選擇測(cè)試夾具
6.夾具補(bǔ)償
7.將DUT放在夾具上開始測(cè)試
LCR測(cè)試儀能準(zhǔn)確并穩(wěn)定地測(cè)定各種各樣的元件參數(shù),主要是用來(lái)測(cè)試電感、電容、電阻的測(cè)試儀。它具有功能直接、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。下面介紹一下簡(jiǎn)單的元件參數(shù):
固緯電子新推出LCR-8200系列,提高了測(cè)試精度,增加了電壓,電流監(jiān)控,直流電阻測(cè)試,ALC功能,輸入阻抗切換等功能。
LCR-8200系列(LCR-8230,LCR-8220,LCR-8210,LCR-8205,LCR-8201)主要特點(diǎn):
快速選型
型號(hào) | 測(cè)試頻率 | 基本精度 | 圖表功能 | 列表測(cè)試功能 | 標(biāo)配接口 |
LCR-8230 | 10Hz-30MHz | ±0.08% | YES | YES | USB /RS-232/LAN/GPIB |
LCR-8220 | 10Hz-20MHz | ±0.08% | YES | YES | USB /RS-232/LAN/GPIB |
LCR-8210 | 10Hz-10MHz | ±0.08% | YES | YES | USB /RS-232/LAN/GPIB |
LCR-8205 | 10Hz-5MHz | ±0.08% | YES | YES | USB /RS-232/LAN/GPIB |
LCR-8201 | 10Hz-1MHz | ±0.08% | YES | YES | USB /RS-232/LAN/GPIB |
選購(gòu)附件 | |||||
附件型號(hào) | 敘述 | LCR-8230 | LCR-8220 | LCR-8210 | LCR-8205 |
LCR-05A | 30MHz測(cè)試治具, 適用于軸向&徑向元件 | V | V | V | V |
LCR-06B | 開爾文夾測(cè)試線 (4線式) | △ | △ | △ | △ |
LCR-07 | 鱷魚夾測(cè)試線 (2線式) | △ | △ | △ | △ |
LCR-08 | 鑷子式測(cè)試治具, 適用于SMD/Chip元件 | △ | △ | △ | △ |
LCR-10A | 30MHz測(cè)試治具, 適用于底部電極元件 | V | V | V | V |
LCR-12 | 開爾文夾測(cè)試線 (4線式) | △ | △ | V | V |
LCR-15A | 30MHz測(cè)試治具, 適用SMD/Chip元件 | V | V | V | V |
GTL-234 | RS-232C通訊線(null modem) | V | V | V | V |
GTL-246 | USB通訊線 | V | V | V | V |
GTL-248 | GPIB通訊線 | V | V | V | V |
注: " △ "表示, 測(cè)試治具有工作頻率的限制 |